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USBメモリの代表的な障害｜データ復旧
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USBメモリについて｜データ復旧
USBメモリの代表的な障害
フラッシュメモリを組み込んだ記憶メディアは、環境依存も少なく手軽に利用可能なため現在では広く使われています。デジタルカメラや、携帯電話・ゲーム機等で利用されるカードタイプの「SDカード/microSDカード」や「コンパクトフラッシュ」、USBコネクタを付けたスティック状の「USBメモリ」などが代表的な規格です。
汎用性の高さやコストの安さなどメリットも多いメディアですが、その特性上の弱点・デメリットも多数ありますので、データ復旧に関わる破損や障害の発生等について説明します。
物理的な限界
書き換えの回数の制限
メーカー公表の数値ではメモリの書き換え回数は30〜100万回程度とされていることが多いようです。これはメモリへの書き込みの際に電子が酸化膜を貫通することでこれを劣化させることになりますので、それの限界の数字とされています。メモリセル単体の書き換え寿命は数百から数万回とされていますが、実際にメモリに書き込みされる場合は、その書き込みされる物理的なアドレスを毎回ずらす工夫が内部でされているため、この劣化はメモリ全体に万遍なく発生していることになり、実際の使用上の寿命が30〜100万回程度となります。
データ保持期間
そもそも電子によって情報を記憶するという構造に限界があり、書き換えが行われていない、また温度等の環境条件のよいケースでの保持の限界として10年程度とされています。そのため実際の使用環境ではもっと短くなり、動作保証を2〜3年としている製品すらあります。また前述の通り、書き込みを繰り返したメモリは最初から保持期間が短くなりますので、リサイクル的な再利用もおすすめできないので注意しましょう。
脱着回数の制限
USBコネクタの脱着限界はメディアや材質によって大きく異なりますが、USBメモリで使用されるA端子は1500回程度が上限とされています。コネクタ部（電極として直接的に接触する部分）は、メッキがされていますが、これらが摩擦により消耗すると接触不良が発生するようになり、正常な読み書きができなくなります。1,500回を超えてすぐに壊れるわけではありませんが、故障のリスクは高まります。
物理的な破損
コネクタと基板との接点部は構造的に非常に脆く、物を当てたりぶつかったりした際に破損するケースが多くあります。内部のコントローラーチップやメモリチップなどに問題がなくても、コネクタ口が壊れてしまうとアクセスできなくなるため取り扱いには注意が必要です。またHDDと異なり駆動部を持たないため衝撃には強そうなUSBメモリですが、内部の「水晶振動子」が衝撃に弱いため、勢い良く落下させると破損することもありますので気を付けましょう。
過電圧等による破損
フラッシュメモリは常時接触タイプであるため、過電圧などのトラブルが発生した際に非常に影響を受けやすくなっています。また静電気等による影響も気を付ける必要があります。最近流通しているメディアは静電気対策が施されているものが多いですが、直接的ではなくとも間接的な影響を及ぼすこともあります。 基板やコントローラーチップが破損してもメモリチップさえ無事であればそこから直接データ復旧することは可能ですが、コントローラーを介さずにアクセスする際には特殊なアルゴリズムを用いる必要があるため、簡単にデータを取り出すことはできません。そういった場合はUSBメモリの物理的な破損からのデータ復旧に完全対応しているデータレスキューセンターにご相談ください。
論理的な障害
フラッシュメモリを組み込んだ記憶メディアは、現在ではほぼすべての規格でFATフォーマットが採用されています。開発コストを下げ、また汎用性を維持するためのものと思われますが、FATフォーマットにはジャーナリングと呼ばれるファイルフォーマットの破損をある程度回避する機能が備わっておらず、読み書きの最中に急に抜いたりした場合にファイルフォーマット全体が壊れてしまうということが容易に発生します。特にUSBメモリは簡単に抜き差しができるなど、不注意な操作による破損リスクが高い条件が揃っているので注意が必要です。
